影像二次元测量仪CHT432A

中图仪器CHT432A影像二次元测量仪以非接触式的光学测量为主，通用性强，光学测量针对接触式测量无法实现接触的特征，可通过光学放大及光强调节进行测量，如微型特征，深槽内特征及接触易变形材料或薄件等。非接触式测量利用光学测量技术无需接触产品表面，可实现效率高的测量。

CHT432A影像二次元测量仪能够便捷而快速进行坐标扫描测量与SPC结果分析，满足现代制造业对尺寸检测日益突出的要求：更高速、更便捷、更精准。通过搭载光谱共焦测头，可非接触式进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量，比三角激光测量范围更广，满足不同客户多种复杂样品测量需求。

CHT432A影像二次元测量仪搭配自主研发的测量软件，充分吸取了市场反馈信息，粗细适中的功能标识，合理有序的模块组合搭配，功能强大实用，客户使用起来上手很快，并且可以根据客户个性化需求定制开发功能。